干涉条纹法中目标条纹的选取与识别方法和系统

Abstract

本发明提供一种干涉条纹法中目标条纹的选取与识别方法,其包括:获取均匀电场下施加电压前的背景图像,提取所述背景图像中明条纹的骨架线;在所述背景图像中选取一条明条纹作为目标条纹;根据所述目标条纹设置像素区间,并获取所述像素区间中点的参考行坐标;获取均匀电场下施加电压后的所述加压图像,提取所述加压图像中明条纹的骨架线;在所述加压图像中,设置垂直经过所述像素区间中点的参考线,并获取所述参考线与各条纹交点的移动行坐标;计算所述移动行坐标与所述参考行坐标的差值,差值小于预设范围的条纹为移动后的所述目标条纹。本发明进一步提供干涉条纹法中目标条纹的选取与识别系统。可以准确地获取目标条纹的位移量。

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      Publication numberPublication dateAssigneeTitle
      GB-2445898-AJuly 23, 2008Univ Cambridge TechMach-Zender interferometer for charged quantum entities
      US-5617500-AApril 01, 1997Nikon CorporationSystem for detecting an optical information and scanning microscope system

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